植物冠層分析儀如何測量葉面積指數(shù)，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當?shù)刈游缇€的夾角。

便攜式植物冠層分析儀的功能，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當?shù)刈游缇€的夾角。

法國HI-PHEN植物冠層分析儀，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當?shù)刈游缇€的夾角。

便攜式植物冠層分析儀測量的是什么，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當?shù)刈游缇€的夾角。

AIRPHEN植物冠層分析儀原理，測量原理基于貝爾定律，結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù)，計算出冠層的有效LAI，結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當?shù)刈游缇€的夾角。

植物冠層分析儀品牌，人眼所能能識別的光譜區(qū)間為可見光區(qū)間，波長從400nm到700nm；普通數(shù)碼相機的光譜響應區(qū)間與人眼識別的光譜區(qū)間相同，包含藍、綠、紅、三個波段；而多光譜相機的工作譜段范圍在其基礎(chǔ)上，可以分可見光、近紅外光、紫外光等每臺多光譜相機的分辨率不同，所應用的領(lǐng)域也不同就比如說我們在做植被調(diào)查的時候，植被的可見光波段對綠色比較敏感對紅色和藍色反射較弱。